-
Optisch kwartsglas
-
Het machinaal bewerken van Kwartsglas
-
Kwartsglazen buis
-
Kwarts capillaire buis
-
Borosilicaatglazen buis
-
Kwartsglasstaaf
-
Laserreserveonderdelen
-
Siliciumdioxide sputterdoel
-
Kwartsapparaat
-
De Plaat van het kwartsglas
-
Aangepaste glazen onderdelen
-
Aangepaste keramische onderdelen
-
Optisch Productiemateriaal
-
Mobiele Glasdekking die Machine maakt
-
Optisch Meetinstrument
-
Optisch Kristal
150 mm Rechthoekige Gesmolten Silica Substraat 5x3,2 mm Optische Monsterdrager Basis
| Algemene dimensie | 150 x 5 x 3,2 mm | Materiaal | Zeer zuiver gesmolten silica |
|---|---|---|---|
| Oppervlakteafwerking | Precision Gepolijst | Vlakheid en parallellisme | Hoge precisie |
| Doorlaatbaarheid | Uniform van UV tot IR | Randbehandeling | Vier nauwkeurig afgeschuinde randen |
| Maatwerk | Polijsten, matteren, gleufsteken, boren, optische coating | ||
| Markeren | 150 mm Rechthoekige Gesmolten Silica Substraat,5x3,2 mm kwartssubstraat |
||
Het 150 mm Rechthoekige Gesmolten Silicium Substraat is een langwerpig precisiekwartsplatform vervaardigd uit hoogzuiver gesmolten silicium door middel van geïntegreerde verwerking, vrij van bubbels, strepen en insluitsels. Met een totale afmeting van 150 x 5 x 3,2 mm biedt dit verlengde en verdikte substraat een sterkere stijfheid en anti-buigprestaties dan standaard dunne platen, waardoor het geschikt is voor veeleisende optische en spectrale testtoepassingen. De precies geslepen en gepolijste oppervlakken leveren een hoge vlakheid en parallellisme, terwijl het materiaal uniforme transmissie biedt van het ultraviolette tot het infrarode bereik. Gecombineerd met een ultralage thermische uitzettingscoëfficiënt en uitstekende weerstand tegen hoge temperaturen, zuren en logen, behoudt het substraat een stabiele geometrie en schoon optisch gedrag, zelfs onder thermische schokken, waardoor het een betrouwbare dragerbasis is voor precisiemeetsystemen.
Specificatie| Parameter | Specificatie |
|---|---|
| Totale afmeting | 150 x 5 x 3,2 mm |
| Materiaal | Hoogzuiver gesmolten silicium, geïntegreerde verwerking |
| Oppervlakteafwerking | Precisie geslepen en gepolijst |
| Vlakheid & Parallellisme | Hoge precisie |
| Transmissie | Uniform van UV tot IR |
| Thermische uitzetting | Ultralage coëfficiënt |
| Randafwerking | Vier randen precisie afgeschuind, zonder chips en bramen |
- Defectvrije geïntegreerde verwerking: De hoogzuivere gesmolten silicium body is vrij van bubbels, strepen en insluitsels, wat zorgt voor een consistente optische kwaliteit over het gehele substraat.
- Precisie geslepen en gepolijst oppervlak: Hoge vlakheid en parallellisme worden gehandhaafd over de volledige lengte van 150 mm, wat een stabiel referentievlak biedt voor metingen.
- Uniforme transmissie van UV tot IR: Het substraat zendt licht gelijkmatig uit over een breed spectrum, zonder strooilichtinterferentie voor optische tests.
- Ultralage thermische uitzettingscoëfficiënt: Minimale vervorming bij temperatuurverandering, gecombineerd met hoge temperatuur- en zuur-loogbestendigheid, voorkomt barsten onder thermische schokken.
- Precisie afgeschuinde randen: Alle vier de randen zijn soepel afgerond zonder chips of bramen, wat optische componenten en operators beschermt tijdens het hanteren.
Het 150 mm Rechthoekige Gesmolten Silicium Substraat dient meerdere doelen in optische, spectrale en precisie-inspectiesystemen. Het wordt vaak gebruikt als sampledragerbasis voor spectrale tests, en biedt een schoon, vlak en chemisch inert platform dat de meetresultaten niet zal beïnvloeden. In glasvezeloptiek werkt het substraat als een positioneringssubstraat voor glasvezelkoppeling, waarbij glasvezels en optische elementen nauwkeurig worden uitgelijnd. De plaat fungeert ook als een optische pad-spacer voor optische apparatuur, waarbij nauwkeurige afstanden tussen componenten in het lichtpad worden gehandhaafd. Voor toepassingen met hoge temperatuursensoren fungeert het als een lichtdoorlatend substraat dat stabiel blijft onder thermische belasting. Bovendien wordt het substraat aangenomen als een standaard dragerplaat voor precisie-beeldinspectie, en biedt het een betrouwbaar referentieoppervlak voor dimensionale en oppervlaktekwaliteitscontroles.
Voordelen- Verlengd en verdikt ontwerp: De versterkte structuur levert sterkere stijfheid en anti-buigprestaties, waardoor het substraat vlak blijft tijdens langdurig gebruik.
- Strakke dimensionale tolerantie: Strikte maatafwijking zorgt voor stabiele consistentie over massaproductiebatches, wat vervanging en uitwisselbaarheid vereenvoudigt.
- Volledige maatwerk beschikbaar: Enkel- of dubbelzijdige polijsting, buitenmatten, sleuven, boren en optische coatings kunnen allemaal worden aangepast aan de eisen van de klant.
- Geen onzuiverheidsprecipitatie bij hoge temperatuur: Het schone hoogzuivere materiaal zal optische componenten niet verontreinigen, waardoor het geschikt is voor allerlei precisie optische testapparatuur.

